Statystyczne Sterowanie Procesem (ang. Statistical Process Control, SPC, czasem określane w Polsce również jako Statystyczna Kontrola Procesu) to zbiór technik i narzędzi statystycznych używanych od ponad 80 lat. Od czasu pierwszego zastosowania, aż do dzisiaj istnieją różne teorie na temat jego natury i głównego celu stosowania. Twórcą jest Walter Shewhart, który wdrożył statystyczne sterowanie procesami już w latach 30. XX wieku w przemyśle samochodowym. Szkolenia SPC skupiają się w większości jedynie na narzędziach statystycznych, upraszczając tym samym zastosowanie tej metodologii jedynie do kontroli i monitorowania wyników procesów.

Mimo, iż Statystyczne sterowanie procesami może być stosowane w powyższych obszarach, to jest to jedynie bardzo wąska i uproszczona interpretacja, niewykorzystująca drzemiącego w nim potencjału. SPC sprawdza się równie dobrze w zakresie ciągłego doskonalenia. Podstawą wszelkich działań optymalizacyjnych jest ocena stabilności procesu, jego spójności i przewidywalności. Kluczem do sukcesu jest umiejętne i efektywne wykorzystanie dostępnych narzędzi. Statystyczna kontrola procesu pozwala poznać i zrozumieć źródła zmienności, które mają wpływ na osiągane wyniki. Tylko w ten sposób możemy wkroczyć na drogę ciągłego doskonalenia i bez wielkich inwestycji poprawić jakość oraz zwiększyć produktywność. Statystyczne sterowanie procesami opiera się głównie na Kartach Kontrolnych, które pozwalają podzielić przyczyny pojawiającej się zmienności na naturalne i specjalne, dzięki czemu możliwa jest długoterminowa ocena stabilności procesu. W ten sposób można szybko zaważyć, a przez to również zareagować na zachowania niestandardowe. Szkolenie SPC obejmuje także m.in. zagadnienia dotyczące mapowania procesów oraz produktów, racjonalnego zbierania danych oraz próbkowania, a także badania systemów pomiarowych. Statystyczne sterowanie procesem może być stosowane zarówno w środowisku przemysłowym, jak i usługowym czy administracyjnym.

Korzyści płynące ze szkolenia SPC

Statystyczne sterowanie procesem pokazuje przede wszystkim koncepcje, na których opierają się narzędzia tak, aby ich późniejsze wykorzystanie przynosiło realne korzyści i wiedzę o procesie. W trakcie warsztatów dzielimy się realnymi przykładami, co pozwala uczestnikom zobaczyć rzeczywiste możliwości prezentowanej metodologii. W trakcie zajęć przeprowadzane są liczne ćwiczenia i symulacje, a większość wykładów bazuje na wykorzystaniu rzutników pisma, aby zwiększyć koncentrację i zaangażowanie klasy.Organizowane przez OpEx szkolenie SPC trwa 3 dni i prowadzone jest przez doświadczonych trenerów posiadających certyfikację Six Sigma Master Black Belt.

szkolenie zamknięte znak zapytaniaZAPYTAJ O SZKOLENIE:
TEL:+48 783 191 353
KONTAKT@E-OPEX.PL

Terminy szkoleń otwartych
Statystyczne Sterowanie Procesem
TERMIN SZKOLENIA MIEJSCE CENA NETTO
Klasa 01/2025
11-13 III 2025
Wrocław  3 500
Klasa 02/2025
6-8 V 2025
Kraków 3 500
Klasa 03/2025
20-22 V 2025
Wrocław 3 500
Klasa 04/2025
7-9 X 2025
Wrocław  3 500
Klasa 05/2025
21-23 X 2025
Kraków 3 500

Klasa 06/2025
18-20 XI 2025

Wrocław  3 500

Aby wziąć udział w szkoleniu otwartym należy wypełnić formularz zgłoszeniowy i przesłać go na adres: szkolenia@e-opex.pl Przy zgłoszeniu na 30 dni przed rozpoczęciem warsztatów, oferujemy rabat w wysokości 10%!

Cena szkolenia zwiera
  • Możliwość konsultacji z trenerem w trakcie szkolenia oraz przez 2 miesiące po zakończeniu warsztatów
  • Szkolenie prowadzone przez trenera z certyfikacją Six Sigma Master Black Belt
  • Imienny certyfikat ukończenia szkolenia
  • Komplet materiałów szkoleniowych
  • Dodatkowe materiały szkoleniowe uzależnione od indywidualnych potrzeb uczestnika
  • Login i hasło do Strefy Klienta pozwalające na bezpłatne korzystanie z wielu materiałów dodatkowych
  • Przerwy kawowe oraz lunch


Oczekiwane rezultaty szkolenia

Po zakończeniu szkolenia uczestnicy będą potrafili:

  • planować zbieranie danych w taki sposób, aby odpowiadały one na konkretne pytania dotyczące procesów (plany próbkowania),
  • analizować zebrane dane w sposób praktyczny, graficzny i ilościowy,
  • używać Kart Kontrolnych zarówno w sposób pasywny (monitorowanie procesu) jak i aktywny (rozwiązywanie problemów w procesie),
  • zbadać i ocenić system pomiarowy zarówno dla pomiarów o charakterze ciągłym, jak i dyskretnym,
  • przeprowadzić wszystkie niezbędne analizy za pomocą programu Minitab.
ADRESACI SZKOLENIA
  • INŻYNIEROWIE PROCESU
  • INŻYNIEROWIE JAKOŚCI
  • TECHNOLODZY
  • LIDERZY
  • MANAGEROWIE


plan-szkolenia

DZIEŃ 1

    FORMA REALIZACJI
Wprowadzenie do zmienności (podstawowe statystyki) wykład
Quincunx: ćwiczenie praktyczne pokazujące dlaczego tak ważne jest rozróżnienie pomiędzy zmiennością naturalną a specjalną ćwiczenie praktyczne
Mapa Procesu i Tabela Źródeł Zmienności jako podstawy projektowania planów zbierania danych wykład + ćwiczenie praktyczne
Wprowadzenie do próbkowania: drzewa próbkowania, wykresy pudełkowe, karty średniej i rozstępu wykład + ćwiczenie praktyczne
Samodzielna konstrukcja i interpretacja Karty Kontrolnej ćwiczenie praktyczne
W jaki sposób dobierać wielkość próbki i częstotliwość pobierania? ćwiczenie praktyczne
Kiedy należy przeliczać granice kontrolne? ćwiczenie praktyczne

DZIEŃ 2

    FORMA REALIZACJI
Użycie Kart Kontrolnych do rozwiązywania problemów – Badanie Składników Zmienności: dwu, trzy i czteropoziomowe drzewa próbkowania wykład
Analiza Danych CoV: analiza praktyczna, graficzna i ilościowa wykład + studium przypadku + Minitab
Trzy ćwiczenia praktyczne podczas których uczestnicy samodzielnie analizują przykłady Badania Składników Zmienności o rosnącej skali trudności ćwiczenie praktyczne
Helikopter – uczestnicy przeprowadzają i analizują swoje pierwsze CoV na podstawie Tabeli Źródeł Zmienności skonstruowanej pierwszego dnia ćwiczenie praktyczne
Użycie Kart Kontrolnych do monitorowania wyników procesu: Karty Wartości Indywidualnych i Ruchomych Rozstępów wykład + studium przypadku + Minitab

DZIEŃ 3

    FORMA REALIZACJI
Analiza zdolności (wskaźniki Cp, Cpk, Cm, Cmk, Pp, Ppk): konstrukcja i interpretacja wyników oraz ograniczenia wnioskowania. Jak sposób zbierania danych wpływa na wyniki wskaźników zdolności wykład + studium przypadku + przykłady analiz
Analiza systemów pomiarowych dla danych ciągłych z wykorzystaniem poznanych wcześniej narzędzi SPC wykład + studium przypadku + Minitab
Analiza systemów pomiarowych dla kontroli wizualnej wykład + studium przypadku
Ćwiczenie praktyczne, w którym uczestnicy analizują wybrany system pomiarowy oraz w razie potrzeby usprawniają go tak, aby spełniał założone wymagania ćwiczenie praktyczne

Zapraszamy do zapoznania się z pełną ofertą szkoleń.

Sprawdź również: Szkolenia Six Sigma, Szkolenia FMEA oraz Szkolenia DOE.